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彼爱姆9J光切法显微镜普通型

彼爱姆9J光切法显微镜普通型

用途9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。 对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。 是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。 技术参数 1、摄影装置放大倍数:约6X 2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm 3、不平宽度: 用测微目镜: 0...