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彼爱姆9J光切法显微镜普通型

2024-12-31 0

用途9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。

对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。

是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

技术参数

1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

3、不平宽度: 用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台:0.01~13mm

4、仪器重量: 约23kg

5、外形尺寸: 约180×290×470mm

测量范围不平度平均高度值 (um)表面光洁度级别所需物镜总放大倍数物镜组件

工作距离 (mm)视场 (mm)>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

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